公路地下通信管道高密度聚乙烯硅芯塑料管

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本资料由国内专业HDPE硅芯管(Silicon core tube)生产(production)厂家(Manufactor)本公司结合多年生产(production)施工(construction)经验以及国家交通部公布的JT/T496-2004行业规范整理而成,未经许可,谢绝转载!

1 范围

本规范规定了公路地下通信管道高密度(density)聚乙烯硅芯塑料管(简称硅芯管(Silicon core tube))的产品(product)分类、命名、技术(technology)要求、实验办法、查验规则以及标识、包装、运输(transport)和储存。

本规范应用于公路地下铺设的通信光、电缆用高密度(density)聚乙烯硅芯塑料保护管,多孔组合高密度(density)聚乙烯塑料管道可参照执行。

本规范不应用于室外直接暴露于太阳光下的通信光、电缆用保护管。

2 规范性引用文件

下列文件中的条款经过在本规范中引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件其随后一切的修正单(不包括勘误的内容)或订正版均不应用于本规范。但是,鼓舞依据本规范达成协议的各方研究能否可使用(Use)这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本应用于本规范。

GB /T 1 9 1-200(〕包装储运图示标志

GB /T 1 0 39-1992 塑料力学性能实验办法总则

GB /T 1 4 08.1-199!〕固体绝缘材料(Material Science)电气强度(Strength)实验办法工频下的实验

GB /T 1 8 42-1999 聚乙烯环境应力开裂实验办法

GB /T 2 4 11-1980 塑料邵氏硬度实验办法

GB /T 2 8 28-1987 逐批检查计数抽样程序及抽样表(应用于连续批的检查)

GB /T 2 9 18-1998 塑料试样状态调节和实验的规范环境

GB /T 3 6 82-200(〕热塑性塑料熔体流动速率实验办法

GB /T 5 4 70-1985 塑料冲击脆化温度实验办法

GB /T 6 6 71-2001 热塑性塑料管材纵向回缩率的测定

GB /T 8 8 04.2-1988 热塑性塑料管材拉伸性能实验办法聚乙烯管材

GB /T 8 8 06-1988 塑料管材尺寸测量办法

YD /T 8 4 1-1996 地下通信管道用塑料管

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3 产品(product)分类与命名

3.1 构造

硅芯管(Silicon core tube)由高密度(density)聚乙烯(HDPE)外壁、外层色条和永久性固体硅质内润滑层组成(Form),断面构造表示图如图1所示。

3.2 分类

3.2.1 按构造划分为:

— 内壁和外壁均是平滑的实壁硅芯管(Silicon core tube),用大写英文字母S表示;

— 外壁光滑、内壁纵向带肋的带肋硅芯管(Silicon core tube),用英文字母R,表示;

— 外壁带肋、内壁光滑的带肋硅芯管(Silicon core tube),用英文字母R2表示;

— 外壁 、内壁均带肋的带肋硅芯管(Silicon core tube),用英文字母R3表示。

3.2.2 按产品(product)外层颜色划分:

— 硅芯管(Silicon core tube)基体为一种纯色,外层镶嵌不同颜色色条的彩条硅芯管(Silicon core tube);

— 硅芯管(Silicon core tube)通体为一种纯色的单色硅芯管(Silicon core tube)。

产品(product)的外层颜色用一至两个英文大写字母表示,BK表示黑色,BL表示蓝色,BR表示棕色。

3.3 型号

3.3.1 产品(product)的型号包括企业名称、主要材料(Material Science)、管径规格、盘长、管壁构造和外层颜色等内容,详细标示如下:

示例

如 xx H DPE040/33-2000S B K,表示由xx 企业生产(production)的规格为040/33、盘长2000m的黑色带彩条实壁高密度(density)聚乙烯硅芯塑料管。

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4 技术(technology)要求

4.1 一般(commonly)要求

4.1.1 原材料(Material Science)

生产(production)硅芯管(Silicon core tube)的主料应使用(Use)契合国家规范的高密度(density)聚乙烯挤塑树脂(resin),在保证(ensure)契合本规范规定技术(technology)条件(condition)下,单色黑色管可以(Sure)使用(Use)不超越10%的少量清洁的回用料,其余颜色的硅芯管(Silicon core tube)不得使用(Use)。

4.1.2 工艺(Technology)外观

外观颜色均匀一致;内外壁实体应平整、均匀、光滑,无陷落、坑凹、孔洞、扯破痕迹及杂质麻点等缺陷;截面无气泡、裂缝;硅芯管(Silicon core tube)内壁紧密熔结、无脱开现象(phenomenon);外壁上产品(product)标识完整、清楚。

4.2 规格尺寸

4.2.1 根据光电缆的外径和气吹设备(equipment)的性能,硅芯管(Silicon core tube)的规格及尺寸允差应契合表1规定。

表1 硅芯管(Silicon core tube)规格及尺寸允差


4.2.2 为运输(transport)及施工(construction)方便,硅芯管(Silicon core tube)应顺序缠绕在盘架上,盘架的构造应满足(satisfy)硅芯管(Silicon core tube)最小弯曲半径的要求,每盘硅芯管(Silicon core tube)出厂标称长度宜契合表2的规定,也可由供需双方约定,但中部不得有断头。

表2 长度及允差

4.3 硅芯管(Silicon core tube)的物理化学性能

硅芯管(Silicon core tube)的物理化学性能应契合表3的规定。

表3 硅芯管(Silicon core tube)物理化学性能指标

4.4 硅芯管(Silicon core tube)专用连接(Connect)头

硅芯管(Silicon core tube)应使用(Use)专用连接(Connect)头连接(Connect),专用连接(Connect)头的要求应契合附录A的规定。

4.5 硅芯管(Silicon core tube)管塞

硅芯管(Silicon core tube)两头应使用(Use)膨胀管塞和(或)热塑套管密封(Seal up)以避免潮气或灰尘进人管内,管塞的密封(Seal up)性能应满足(satisfy)耐水压密封(Seal up)实验的要求。

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5 实验办法

5.1 状态调节和实验的规范环境

除特殊(special)规定外,试样应按GB/T2 918-1998的规定在23℃士2℃条件(condition)下进行状态调节24h,并且(also)在此条件(condition)下进行实验。

5.2 查验仪器和实验准备

5.2.1 查验所用的万能材料(Material Science)实验机负荷传感器准确度等级不低于1级,长度计量用具精度等级:钢卷尺不低2级,其余不低于1级。

5.2.2 做拉伸实验所用试样的取样、制备和实验机的调整、操作(manipulate)等要求除特殊(special)规定外,按GB/T 1039-1992的规定执行。

5.3 外观查验

在正常光芒下,用肉眼直接观察。

5.4 硅芯管(Silicon core tube)尺寸的测法

尺寸的测量按GB/T 8806-1988的规定,长度用分度值为lmm的卷尺测量,外径用分度值为

0.02mm 的游标卡尺测量,测量壁厚时要充分留意量具施加到试样上的力值对测量结果的影响,宜用分度值为O.Olmm 的壁厚千分尺测量,椭圆度测量按附录B执行。

5.5 理化性能

5.5.1 外壁硬度

将长度 100m 的硅芯管(Silicon core tube)试样紧密套在外径恰当的金属棒上,放置在D型邵氏硬度计正下方,按GB/T 2411-1980规定的办法,读取实验的刹时硬度为测量结果,共读取五次,取其算术平均值为测量结果。

5.5.2 内壁磨擦系数

5.5.2.1 静态内壁磨擦系数按附录C规定测试。

5.5.2.2 动态内壁磨擦系数实验办法,当生产(production)企业用于比对实验,已肯定生产(production)工艺(Technology)或配方改良方案时可参照附录D进行测试。

注:动态内壁磨擦系数实验办法的正式规范正在制定中,正式规范公布后,代替此条。

5.5.3 拉伸强度(Strength)

按 GB /T 8 804.2-1988规定的办法,取五个冲裁试样,分别夹持在实验机上,拉伸速度为100mm/分钟,直至将试样拉断,记下拉伸过程当中的最大拉伸值为实验结果,取五次有效实验的算术平均值为测试结果。

5.5.4 断裂伸长率

按 GB /T 8 804.2-1988规定的办法,取五个冲裁试样,拉伸速度为100mm/分钟,取五次有效实验的算术平均值为测试结果。该实验数据可与5.5.3拉伸强度(Strength)同时取得。

5.5.5 最大牵引负荷

取三段长度为200mm的完整硅芯管(Silicon core tube)试样,试样两头应垂直切平。用专用夹具将试样夹持在实验机上,拉伸速度为450mni/nun,直至试样屈服时,读取实验的屈服负荷为实验结果。若试样在夹具边沿断裂,则实验无效,应重新更换试样。取三个有效实验的算术平均值为测试结果。

5.5.6 冷弯曲半径

按附录E规定执行。

5.5.7 环刚度

按 YD /T 8 41-1996的6.5.2规定执行。

5.5.8 扁平实验

按 YD /T 8 41-1996的6.5.3规定执行。

5.5.9 恢复率

取样办法、样品数量和实验机压缩速度同YD/T8 41-1996的6.5.3,在试样直径两头做好标记,并量取标记处的外径为初始外径,按规定的实验速度沿标记外径方向加压至外径变形量为初始外径的50%时,立刻卸荷,在规范状态下恢复10分钟后,再次量取标记处的外径为终了外径,按下式计算恢复率:

恢复率=(D1/D0)X100%

式中:Do— 实验前初始外径;

D1— 实验后终了外径。

取三个试样实验结果的算术平均值为测试结果。

5.5.10 耐落锤冲击性能

a) 试样准备

取20段长度为150mm的完整硅芯管(Silicon core tube)试样,试样两头应垂直切平、无破裂、无裂痕等缺陷,每次实验取一个试样放在实验机冲击平台上,锤头的冲头形状和尺寸如图2所示。

图2 锤头尺寸图(尺寸单位:mm)

b) 常温冲击实验

在温度2 3℃士29C,落锤高度2m,锤头直径50mm、质量(quality)巧.3吨(ton T)的条件(condition)下进行冲击,每一个试样冲击一次,试样不破裂或裂纹宽度不大于0.8nun为合格(qualified),10个试样9个以上合格(qualified)为常温落锤冲击实验合格(qualified)。

c) 低温冲击实验

将试样放在温度一20℃士2℃的实验箱中恒温保持5h,每次取出一个试样,在30s内依照5.5.10b )规定的办法进行实验,10个试样9个以上合格(qualified)为低温落锤冲击实验合格(qualified)。

5.5.11 耐水压密封(Seal up)实验

取两段长度为l000mm的完整硅芯管(Silicon core tube)试样,用硅芯管(Silicon core tube)专用连接(Connect)头按生产(production)企业供给的工具和办法连接(Connect)好,一端用管塞密封(Seal up)好,另外一端连接(Connect)专用卡具注水,水温20 0C士2`C,压力50kPa条件(condition)下,保持24h,试样的连接(Connect)头、管塞均不渗漏为合格(qualified)。若呈现渗漏,应将试样个数加倍进行实验,两次都合格(qualified)才能判为合格(qualified),不然,耐水压密封(Seal up)实验分歧格。

5.5.12 抗裂强度(Strength)

取两段长度为500mm的完整硅芯管(Silicon core tube)试样,用硅芯管(Silicon core tube)专用连接(Connect)头按生产(production)企业供给的工具和办法连接(Connect)好组成(Form)试样,用专用卡具将该试样夹持到气压机或水压机(水温20`0 t 2 C)上,缓慢加压至规定的压力,并保持15分钟,试样不破裂、不渗漏为合格(qualified)。若呈现渗漏,应将试样个数加倍进行实验,四次都合格(qualified)才能判为合格(qualified),不然判为分歧格。

5.5.13 与管连接(Connect)头连接(Connect)力

取两段长度为200mm二的完整硅芯管(Silicon core tube),用硅芯管(Silicon core tube)专用连接(Connect)头按生产(production)企业供给的工具和办法连接(Connect)好组成(Form)试样,用专用卡具将该试样夹持到拉伸实验机上,拉伸速度为100mni/nrin,直至管连接(Connect)头被拉破裂或硅芯管(Silicon core tube)被拉出时,读取实验的最大拉伸负荷为实验结果。如斯共进行三组实验,取三次实验结果的算术平均值为测试结果。

5.5.14 纵向回缩率

按 GB / T6 671-2001实验办法B规定,取三段长度200m m的硅芯管(Silicon core tube),标距l00mm,烘箱温度110℃士2℃ 。

5.5.15 脆化温度

按G B/ T5 470-1985规定进行。

5.5.16 耐环境应力开裂

一般(commonly)实验的试样,可从硅芯管(Silicon core tube)上沿轴线直接截取,刻痕长度方向与轴线一致,刻痕深度:壁厚小于等于3.5mm, 时为0.65mm,大于3.5mm时为0.80mm;仲裁试样严厉按GB/T1 842-1995〕规定制取;其余规定按GB/T 1842-1999执行,实验溶剂使用(Use)质量(quality)浓度为20%的重辛基苯基聚氧乙烯醚[TX一10]水溶液。

5.5.17 熔体流动速率

按 GB /T 3 682-2000规定进行。

5.5.18 耐热应力开裂

按附录F规定进行。

5.5.19 工频击穿强度(Strength)

按 GB /T 1 408.1-1999规定进行。

5.5.20 耐化学介质腐蚀(corrosion)

在规范实验环境下,取三段长度为l00mm硅芯管(Silicon core tube)试样分别置于5%的NaCl,4 0%的H2SO4,40%的NaOH溶液中浸泡24h后取出,用自来水冲刷洁净,目测试样的颜色、外观等,无明显褪色和被腐蚀(corrosion)现象(phenomenon)为合格(qualified)。

5.5.21 耐碳氢化合物性能

在规范实验环境下,取三段长度为300mm硅芯管(Silicon core tube)试样,用庚烷浸泡720h后取出,在室温下恢复30分钟,以排干实验液体,以后对硅芯管(Silicon core tube)施加528N的外力并保持l分钟,卸荷后试样不破坏,产生(come into being)的永久变形不超越5%为合格(qualified)。

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6 查验规则

6.1 型式查验

6.1.1 硅芯管(Silicon core tube)产品(product)须经过国家承认的质检机构型式查验合格(qualified)才能批量生产(production)。

6.1.2 型式查验项目为本规范的全部技术(technology)要求。

6.1.3 型式查验的样品应在生产(production)线终端选取。

6.1.4 型式查验为每一年进行一次,若有下列状况之一时,也应进行型式查验。

a) 正式生产(production)过程当中,如原材料(Material Science)、工艺(Technology)有较大改变,可能影响产品(product)性能时;

b) 产品(product)停产后恢复活产时;

c) 出厂查验结果与上次型式查验有较大差异时;

d) 国家质量(quality)监督机构提出型式查验时。

6.1.5 断定规则

型式查验时,若有任一项指标不契合本规范要求时,则需重新抽取双倍试样,对该项指标进行复验,复验结果依然分歧格时,则判该型式查验为分歧格。

6.2 出厂查验

6.2.1 产品(product)需经生产(production)单位质量(quality)部门查验合格(qualified)并附产品(product)质量(quality)合格(qualified)证方可出厂。

6.2.2 组批

用同一批号树脂(resin)、同一配方和同一工艺(Technology)生产(production)的硅芯管(Silicon core tube)可组为一批。

6.2.3 取样办法

在每完成一盘硅芯管(Silicon core tube)生产(production)的同时,应今后盘产品(product)的末端剪下约2一5m长的硅芯管(Silicon core tube)留作样品。

6.2.4 出厂查验项目

出厂查验项目为:外观、平均外径、最小内径、平均壁厚、椭圆度、拉伸强度(Strength)、断裂伸长率、弯曲半径、落锤冲击实验、静态磨擦系数、打印标识、包装。

6.3 验收查验

6.3.1 查验批的构成

每一个查验批应依照同型号、同等级、同成分,且生产(production)工艺(Technology)、条件(condition)和时间基本相同的原则构成,一个批次一般(commonly)不大于500km,对构成的批以盘为单位顺序编号。

6.3.2 抽样方案

依照 GB /T2 828-1987的规定,AQL=1 .0、一次抽样、一般(commonly)检查水平11、正常查验,以盘为单位抽取样本,经常使用样本数量见表4

表4 抽样方案表( AQ L =1.0、一次抽样、一般(commonly)检查水平Ⅱ、正常查验) 单位:盘

6.3.3 查验

依照表4以简单随机抽样的办法抽出所需的样本数,再从该样本中随机抽出10%(很多于一盘)依照技术(technology)要求做全部项目标查验(称A查验);剩余的样本只做外观、壁厚、拉伸强度(Strength)、断裂伸长率和静态磨擦系数的查验(称B查验)。

6.3.4 试样的截取

从抽出的样本盘的盘端截取所需测试样,关于A查验试样数量为1.5m x1 0段,关于B查验试样数量为1.5mx3段,并记载截取盘的厂方盘号、抽样样本编号及相干信息。

6.3.5 验收断定

关于每一个样本的A查验和B查验都合格(qualified)的批应予以验收;

关于A查验分歧格盘数不大于表4中的A。并且(also)B查验全部合格(qualified)的批应予以验收;

关于样本中B查验分歧格的批应拒收;

关于拒收的批允许受检方剔除分歧格盘后重新组批提交查验。

6.3.6 硅芯管(Silicon core tube)接头

硅芯管(Silicon core tube)接头的验收查验项目为气闭性能、耐工作气(水)压、连接(Connect)力、抗压荷载、耐冲击性能、使用(Use)环境温度。抽样方案以套为单位按表4执行,当分歧格数不大于表4中的Ac时应予以验收,不然拒收。

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7 标识、包装、运输(transport)及储存

7.1 标识

7.1.1 在硅芯管(Silicon core tube)表面上每间隔1m,按3.3.1的规定印制产品(product)型号,并加上生产(production)日期、盘号和本盘的累计长度。

示例 公路地下通信管道高密度聚乙烯硅芯塑料管-图片9 x HDPE Φ40/33-2000S BK,2003/02/02020238m

7.1.2 在每盘硅芯管(Silicon core tube)上应附有一张搬运寄存指示标签。指示标签应有“小心轻放”、“怕晒”、“远离热源”等字样或标志,标志应契合GB/T 191-2001〕的有关规定。

7.2 包装

硅芯管(Silicon core tube)两头用专用管塞密封(Seal up)后,固定在盘架上,并用恰当的包装物加以保护,以保证(ensure)在正常运输(transport)寄存过程当中不进水或其余杂物,每一个盘架上应附有盘架编号以备核查。

7.3 运输(transport)

硅芯管(Silicon core tube)在运输(transport)时,不得受剧烈的撞击、磨擦和重压,从火车或卡车卸货时,应用(application)叉车或吊车,不得将硅芯管(Silicon core tube)直接从运输(transport)工具上推下。

7.4 储存

硅芯管(Silicon core tube)寄存场地应平整,堆放应整齐,屯放场地应有明显的“禁止烟火”标志。储存和使用(Use)过程当中,应避免利器刮碰,不与高温(high temperature)热源或明火接触,不得长期露天曝晒。

7.5 产品(product)随行文件

7.5.1 每盘硅芯管(Silicon core tube)该当附有一张制造标签、一张合格(qualified)证标签、一份产品(product)使用(Use)说明书。

7.5.2 制造标签主要内容包括:按3.3.1规定的产品(product)型号、生产(production)日期、批号、盘号、产品(product)规范号、生产(production)企业名称、联系地址等。

7.5.3 合格(qualified)证标签主要内容包括:合格(qualified)证、查验合格(qualified)、查验证编号、查验人员代号、查验日期等。

7.5.4 产品(product)使用(Use)说明书中应给出硅芯管(Silicon core tube)的极限使用(Use)条件(condition)、施工(construction)办法和留意事项。

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附录 A

(规范性附录 )

硅芯管(Silicon core tube)专用连接(Connect)头技术(technology)要求

A.1 连接(Connect)头一般(commonly)由连接(Connect)壳体、密封(Seal up)圈和卡簧组成(Form),壳体由连接(Connect)螺管、螺帽组成(Form)。壳体和卡簧宜选用聚碳酸脂(PC)、聚丙烯(PP)或工程塑料(AB9)注塑制成,主要性能指标见表A.1.

表A .1 连接(Connect)头壳体主要性能

A.2 橡胶密封(Seal up)圈性能:应具有高弹性能并且(also)耐压、耐磨,耐酸、碱、盐等溶剂腐蚀(corrosion),耐环境应力开裂,耐老化。

A.3 外观:连接(Connect)螺管与配合螺帽的内外壁应光滑,无缺陷;二者螺旋配合杰出,外壁有规格型号标志。

A.4 配合尺寸:

连接(Connect)螺管内径(D1)应在满足(satisfy)被接塑料管外径(Do)及其公差的状况下顺利插人,即D1>Do。

连接(Connect)螺管长度(L1):为塑料管外径(Do)的2.5倍。

组装后连接(Connect)件总长度(L2):大于塑料管外径(Do)的3.5倍。

经供需双方商议,可以(Sure)生产(production)其余规格的产品(product),但性能应不低于本规范要求。

A.5 连接(Connect)件组装后可重复装卸使用(Use),并具有气闭性能及连接(Connect)强度(Strength)。主要物理、机械性能应契合表A.2,

表A .2 连接(Connect)件组装后的物理、机械性能与使用(Use)规范

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附录 B

(规 范 性 附录)

椭圆度实验办法

B.1 适用范围

本办法应用于测定以盘/卷形式(form)包装的硅芯管(Silicon core tube)产品(product)和生产(production)线上截取的硅芯管(Silicon core tube)的椭圆度。

B.2 检测设备(equipment)

游标卡尺,准确至±0.02mm。

B.3 样品

取一段长度为500mm的硅芯管(Silicon core tube)试样,并在规范状态下恢复24h。当用于测量生产(production)线上的硅芯管(Silicon core tube)的椭圆度时,应在硅芯管(Silicon core tube)导出装置以前截取样品。

B.4 断定规则

椭圆度不该超越规范规定值。

B.5 测试步骤

B.5.1 连续缓慢地转动试样,在试样中部一固定圆周上,用游标卡尺进行一系列的外径测定,以便测出该断面最大和最小外径,应取五个断面进行测量,每次测量间距50mm,取五次测量结果的算术平均值为最大和最小平均外径的测量结果。

B.5.2 按如下公式计算平均外径:

平均外径 = (最大平均外径 + 最小平均外径 )/ 2

B.5.3 按如下公式计算椭圆度:

椭圆度 = 10 0x ( 最大平均外径 一 最小平均外径)/平均外径

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附录 C

(规 范 性 附 录 )

平板法测定静态磨擦系数实验办法

测试原理如图C.1所示。

C.2 测试装置

测试装置由斜面、斜面升降装置、水平标尺、竖直标尺组成(Form),测试斜面长度L = 1000mm,水平标尺和竖直标尺可用辨别力0.5mm,精度A级的钢板尺组成(Form)。

C.3规范试棒

规范试棒由金属材料(Material Science)棒芯和高密度(density)聚乙烯外套组成(Form),为长度150mm、直径20mm的圆棒,圆棒表面的粗拙度R。值为6.3,表面邵氏硬度HD为59土2,重量(weight)约2708,构造如图C.2所示。

图C.2 规范试棒表示图(尺寸单位: mm )

C.4 测试办法

将长度5 00mm的硅芯管(Silicon core tube)放置在测试斜面上,硅芯管(Silicon core tube)的母线与斜面中心线平行并与斜面紧固,将规范试棒放置在硅芯管(Silicon core tube)内,长度方向与硅芯管(Silicon core tube)轴线平行,试棒露出硅芯管(Silicon core tube)的间隔大于20mm。用升降装置将斜面缓慢升起,直到试棒向下滑动为止,记下水平标尺和垂直标尺的数值,并按公式C.2计算磨擦系数。如斯共实验9次,每次都应将硅芯管(Silicon core tube)旋转一个角度,取9次的算术平均值作为测试结果。

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附 录 D

(资 料 性 附 录 )

圆鼓法测定动态磨擦系数实验办法

D.1适用范围

本办法应用于圆鼓法测定光(电)缆在硅芯管(Silicon core tube)内壁滑动时缆表面面与管内表面之间的动态磨擦系数。

D.2 检测设备(equipment)

圆鼓 ;

拉伸实验机;

20kg专用珐码;

电脑记载软件。

D.3试样

硅芯管(Silicon core tube)4m;

直径为 1 5士2mm、长度6m的MDPE护套光(电)缆;

硅芯管(Silicon core tube)内表面和光(电)缆表面面应无穷制光(电)缆滑动的任何缺陷。

D.4 实验条件(condition)

实验前,实验设备(equipment)和样品应放置在23'C -2 ℃条件(condition)下保持2h,并在此条件(condition)下实验。

D.5实验步骤

D.5.1 把硅芯管(Silicon core tube)按图D.1所示办法使用(Use)U型卡箍固定在圆鼓上,固定应稳定以避免测试时硅芯管(Silicon core tube)与

图D.1 圆鼓法测定磨擦系数实验表示图

圆鼓产生(come into being)相对挪动,硅芯管(Silicon core tube)沿圆鼓的缠绕角度为450°。

D.5.2 把缆放入硅芯管(Silicon core tube)内,切割的缆长应满足(satisfy)测试的最大路程。

D.5.3与缆相连的夹头应能承受测试的最大拉伸负荷。

D.5.4把专用珐码固定在缆的一端,水平端与夹头连接(Connect),夹头经过线绳与拉伸试样机相连。

D.5.5 打开拉伸试样机,设定拉伸速度为100mm/分钟,当祛码恰好离开地面时中止拉伸。调整圆鼓上的硅芯管(Silicon core tube),使两头缆在硅芯管(Silicon core tube)中间。

D.5.6 开启实验机的拉伸程序,速度为100mm/分钟,当横梁位移到100一120mm时中止牵引,降下实验机横梁,再次开启实验机的拉伸程序,如斯往复进行两次,以使线缆与硅芯管(Silicon core tube)充分接触。

D.5.7降下硅码,保证(ensure)拉伸机无载荷,将拉伸机的力值和位移回零。

D.5.8开启实验机的拉伸程序,进行正式实验,拉伸速度为100mm/分钟,当横梁位移到200mm时中止牵引,在100一160mm的位移区间上读取并计算出拉伸实验的平均拉伸负荷F,按下述公式计算硅芯管(Silicon core tube)的动态磨擦系数。

D.5.9 此实验共进行三次,取三次实验结果的算术平均值为动态磨擦系数。

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附 录 E

(规 范 性 附 录 )

硅芯管(Silicon core tube)冷弯曲半径实验办法

E.1 适用范围

本办法应用于测定低温下硅芯管(Silicon core tube)的抗弯曲性能。

E.2 检测设备(equipment)

低温箱 : 温度能控制在一20℃土2`C;

弯曲实验器:半径误差不大于5mm的钢制半圆或整圆滚筒,滚筒表面面无毛刺。

E.3 样品

取3根1 .5m(当外径大于40mm时,为2.0m)长的硅芯管(Silicon core tube)作为试样用于产品(product)的弯曲性能实验,实验前试样应放置在一20`C 129C温度下保持2h.

E.4 断定规则

试样经过弯曲实验后,应不呈现开裂、裂纹或明显应力发白现象(phenomenon)。

E.5 测试步骤

E.5.1 从低温箱中取出1根试样,疾速在四个不同方向长进行弯曲实验,每一个方向上至少该当弯曲90°。

E.5.2 第一次弯曲后,转动180°进行第二次弯曲,而后转动90°,进行第三次弯曲,再转动180°进行第四次弯曲。从冷柜取出试样开始,四次弯曲实验的时间间隔不可以超越20s,四次弯曲实验的总时间不可以超越40s,

E.5.3 从低温箱中取出另外两根样管,依此依照E.5.2的步骤进行弯曲,三个试样都合格(qualified)为合格(qualified),不然应将试样数量加倍进行实验。

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附 录 F

(规范性附录)

耐热应力实验办法

F.1 适用范围

本实验办法参照美国ASPM D2951一00((Ⅲ、Ⅳ型聚乙烯塑料耐热应力开裂测试办法》制定,应用于测定PE塑料管的耐热应力开裂性能。

F.2 实验设备(equipment)

实验设备(equipment)包括:

a) 冲模刀具:127mm x6 .4mm的矩形刀具,要求边沿锋利,开口平直。

b) 钻床:能钻1.6mm直径的孔。

c) 样 品夹持器:不锈钢或黄铜材料(Material Science)制成的圆棒,直径6.4mm,长度165mm。详见图F.1所示。

图F. 1 样品夹持器构造图(尺寸单位 :m m)

d) 连接(Connect)副:不锈钢或黄铜材料(Material Science)制成,螺钉直径1.4mm,长度12.5mm,配相同规格的螺母和垫片。

e) 台钳 :夹持F.2.c)的夹持器,装配试片。

f) 玻璃 试管:直径32mm,长度200mm,带可通气的橡胶塞。

9) 试管 架:夹持F.2.f)规定的试管。

h) 液体浴箱或电热透风炉,能将温度控制在100℃士1℃。

F.3 对结果的解释

实验过程当中假如呈现试样破裂,则以为该试样分歧格。

注:在安装(install)孔6.4mm以内破裂除外。

F.4 样品的准备和实验条件(condition)

F.4.1 按GB/T1 842-1999的办法制备一张厚度1.27士0.13 mm的模压试片,试片的大小应至少能制成F.4.2规定的10个试条。

F.4.2 模压试片成型(Forming)8h后,用F.2.a)规定的刀具切制九个试样条,试样条的尺寸如图F.2所示。

图 F. 2 试样条尺寸图(尺寸单位 :mm )

F.4.3 条件(condition)

试样条在温度为23` C士2`C,相对湿度(humidity)50%士5%的条件(condition)下,状态调节至少40h。

对有严厉要求的实验,可以(Sure)限制在士1℃,±2%。

F.5 实验过程

F.5.1 将夹持棒结实地夹在台钳上,将试样条一端固定到夹持棒的一个孔上,按螺旋方式缠绕4圈半后,用连接(Connect)副固定试样条的另外一端,将两个连接(Connect)副拧紧,装配图如图F.3所示。

注 :过分拧紧可能导致(cause)试样破裂。

F.5.2 按F.5.1所示的办法装配另外两试样条到同一夹持棒上,并放到试管中,堵上塞子,放到试管

F.5.3以相同的办法将剩余的六个试样条装配到另外两个夹持棒上,并放到试管中。

F.5.4 将上 述三个试管放到试管架上并放人100℃电热透风炉或液体浴箱中,记下开始时间和日期。

注:实验期间如用液体浴,要保证(ensure)一切样条都保持浸人状态,不然100℃的温度将疾速降低,影响实验结果。

F.5.5检查周期

分别在48h,96h, 168h的间隔内检查能否有试样失败。将试管从实验箱中取出并顺次检查每个试样,记下时间、日期和累计的失败样品数。

注:要留意高温(high temperature)对实验者的损伤,用皮革或者(perhaps)棉布手套是安全的操作(manipulate)办法。

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