高密度聚乙烯硅芯管国家标准GBT24456

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摘要前言 本规范的附录A、附录B、附录C、附录D和附录E为规范性附录。 本规范由中国轻工业(Industry)结合会提出。 本规范由全国塑料制品规范化技术(technology)委员会...

前言

本规范的附录A、附录B、附录C、附录D和附录E为规范性附录。

本规范由中国轻工业(Industry)结合会提出。

本规范由全国塑料制品规范化技术(technology)委员会塑料管材、管件及阀门分技术(technology)委员会(SAC/TC48/SC3)归口。

本规范起草单位:国家交通安全设施(facilities)质量(quality)监督查验中心、湖北凯乐股份有限公司(company)、福建亚通新材料(Material Science)股份涌现公司(company)、衡水宝力(集团)有限公司(company)、信息产业部有线通信产品(product)质量(quality)监督查验中心。

本规范主要起草人:韩文元、魏作友、刘颖、宋志佗。

高密度(density)聚乙烯硅芯管(Silicon core tube)

1 范围

本规范规定了高密度(density)聚乙烯硅芯管(Silicon core tube)(以下简称“硅芯管(Silicon core tube)”)的构造与分类、材料(Material Science)、要求、实验办法、查验规则以及标识、包装、运输(transport)、储存。

本规范应用于地下直埋、管道、道槽等环境下铺设的光缆、电缆保护用硅芯管(Silicon core tube)及配套管件。

本规范不应用于室外直接暴露于太阳光下以及气吹压力大于1.2MPa的光缆、电缆保护用硅芯管(Silicon core tube)及配套管件。

2 规范性引用文件

下列文件中的条款经过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件,其随后一切的修正(不包括勘误的内容)或订正版均不应用于本规范。但是,鼓舞依据本规范达成协议的各方研究能否可使用(Use)这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本应用于本规范。

GB/T 191包装储运图示标志(GB/T 191-2008,ISO 780:1997 MOD)

GB/T 1842-2008 塑料 聚乙烯环境应力开裂实验办法

GB/T 2411 塑料和硬橡胶 使用(Use)硬度计测定压痕硬度(邵氏硬度)

GB/T 2822.1-2003 计数抽样查验程序 第1部分:按接受质量(quality)限(AQL)检索的逐批查验抽样计划

GB/T 2918-1998 塑料试样状态调节和实验的规范环境

GB/T 3682-2000 热塑性塑料熔体质量(quality)流动速率和熔体体积流动速率的测定

GB/T 6111-2003 流体输送用热塑性塑料管材 耐内压实验办法

GB/T 6671-2001 热塑性塑料管材 纵向回缩率的测定

GB/T 6995.2 电线电缆辨认标志办法 第2部分 规范颜色

GB/T 8804.1-2003 热塑性塑料管材 拉伸性能测定 第1部分:实验办法总则

GB/T 8004.3-2003热塑性塑料管材 拉伸性能测定 第3部分:聚烯烃管材

GB/T 8806-2008 塑料管道系统 塑料部件尺寸的测定

GB/T 9647-2003 热塑性塑料管材环刚度的测定

GB/T 11116 高密度(density)聚乙烯树脂(resin)

BG/T 14152-2001 热塑性塑料管材耐外冲击性能实验办法:时针旋转法

3 构造与分类

3.1 构造

硅芯管(Silicon core tube)由高密度(density)聚乙烯(PE-HD)外层和永久固体硅质内润滑层(简称硅芯层)组成(Form),一般(commonly)带有色条,断面构造表示图如图1所示。

3.2 产品(product)分类

3.2.1 按构造划分为:

——内壁和外壁均是平滑的实壁硅芯管(Silicon core tube),用拉丁字母S表示;

——外壁光滑、内壁纵向带肋的硅芯管(Silicon core tube),用拉丁字母R1表示;

——外壁带肋、内壁光滑的带肋硅芯管(Silicon core tube),用拉丁字母R2表示;

——外壁、内壁均为带肋的带肋硅芯管(Silicon core tube),用拉丁字母R3表示。

3.2.2 按产品(product)颜色划分:

——外层为一种颜色不带色条的单色硅芯管(Silicon core tube);

——外层向前其余颜色色条的彩条硅芯管(Silicon core tube)。

3.3 产品(product)标记

硅芯管(Silicon core tube)的产品(product)标记由名称、规范编号、顺序号、材料(Material Science)、规格、管壁构造、外层颜色代号组成(Form),其中:材料(Material Science)用PE-HD表示,规格见表2,如40/33,管壁构造见3.2.1条,S-实壁管,通常(usually)可省略,R1,R2,R3—带肋管,外层颜色代号见表1。

标记示例:契合GB/T 24456的40/33内外壁光滑的黑色硅芯管(Silicon core tube),其标记为:

硅芯管(Silicon core tube)GB/T 24456 PE-HD 4/33 BK

4.材料(Material Science)

生产(production)硅芯管(Silicon core tube)的主料应使用(Use)契合GB/T 11116规定的高密度(density)聚乙烯挤出级树脂(resin),其熔体流动速率MFR(190/2.16)为0.1g/10分钟~1.0g/10分钟。在保证(ensure)契合本规范第5章要求的条件(condition)下,可使用(Use)不超越10%的本企业清洁的回料。

5 要求

5.1 一般(commonly)要求

5.1.1 外观

硅芯管(Silicon core tube)颜色应均匀一致;内表面面应规整、均匀、光滑,无陷落、坑凹、孔洞、扯破痕迹及杂质麻点等缺陷;截面应光明,无气泡、裂缝、砂眼、杂质等缺陷;硅芯管(Silicon core tube)内外层应紧密熔接、无脱开现象(phenomenon)。

5.1.2 外观颜色及色条

5.1.2.1 硅芯管(Silicon core tube)外层及色条颜色应契合GB/T6695.2的要求。

5.1.2.2 外层颜色和色条颜色应从表1当选用,并用一至两个大写拉丁字母代号表示,如BK表示黑色,BL表示蓝色,BR表示棕色。

表1 辨认用硅芯管(Silicon core tube)色条

序号

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

颜色

绿

粉红

青绿

代号

BL

OR

G

BR

GW

W

R

BK

Y

R

PK

AQ

5.1.2.3 黑色硅芯管(Silicon core tube)的色条一般(commonly)沿硅芯管(Silicon core tube)外壁均布4组,每组一至两条,同组色条宽度2mm±0.5mm、间距2.0mm±0.5mm、厚度0.1mm~0.3mm.

5.2 规格尺寸

5.2.1 硅芯管(Silicon core tube)规格及尺寸允差应契合表2规定。

表2 硅芯管(Silicon core tube)规格及尺寸允差

规格

平均外径d/mm

壁厚及允差/mm

不圆度/%

标称值

允差

规范值

允差

绕盘前

绕盘后

32/26

32

+0.3

0

2.5

+0.30

0

≤2

≤3

34/28

34

+0.3

0

3.0

+0.30

0

≤2

≤3

40/33

40

+0.4

0

3.5

+0.35

0

≤2.5

≤3.5

46/38

46

+0.4

0

4.0

+0.35

0

≤3

≤5

50/41

50

+0.5

0

4.5

+0.40

0

≤3

≤5

63/54

63

+0.6

0

5.0

+0.40

0

≤3

≤5

注:带助管的规格尺寸及允差由供需双方商议

5.2.2 硅芯管(Silicon core tube)应顺序缠绕在盘架上,盘架的构造应满足(satisfy)硅芯管(Silicon core tube)最小弯曲半径的要求,每盘硅芯管(Silicon core tube)出厂长度应契合表3的规定,也可由供需双方约定,但盘中不该有接头。

表3 长度及偏差

规格(DN)

规范长度/m

长度偏差/%

32/26

3000

≥+0.3

34/28

3000

≥+0.3

40/33

2000

≥+0.3

46/38

1500

≥+0.3

50/41

1500

≥+0.3

63/54

1000

≥+0.3

5.3 硅芯管(Silicon core tube)的物理化学性能

硅芯管(Silicon core tube)的物理化学新能应契合表4的规定。

表4 硅芯管(Silicon core tube)物理化学性能指标

项目

32/26

34/28

40/33

46/38

50/41

63/54

外壁硬度/HD

≥59

内壁磨擦系数

静态:≤0.25(平板法,对PE-HD规范棒)

动态:≤0.15(圆鼓法)

拉伸屈服强度(Strength)/MPa

≥20

断裂伸长率/%

≥350

最大牵引负荷/N

≥5000

≥6000

≥8000

≥10000

≥11000

≥12000

冷弯曲性能

按以下弯曲半径对相应规格的硅芯管(Silicon core tube)进行冷弯曲实验,应无开裂和明显应力发白现象(phenomenon)

300mm

300mm

400mm

500mm

625mm

750mm

环刚度/(kN/㎡)

≥50

≥40

≥30

恢复率/%

垂直方向加压外径变形量为原外径的50%时,立即卸荷,试样不破裂、不分层,10分钟内外径能自然(natural)恢复到本来的85%以上

耐落锤冲击性能

在温度-20℃,高度2m条件(condition)下,用15.3kg重锤冲击10个试样,应9个(含)以上经过

耐液压性能

在温度20℃,水压2.0兆帕(Mpa)条件(condition)下,保持15分钟,试样无可见裂纹、无破裂

纵向收缩率/%

≤3.0

耐环境应力开裂

48h,失效≤20%

耐碳氢化合物性能

用庚烷浸泡720h后对硅芯管(Silicon core tube)施加528N的外力,试样不破坏,产生(come into being)的永久变形不超越5%

5.4 硅芯管(Silicon core tube)连接(Connect)头

硅芯管(Silicon core tube)连接(Connect)头应契合附录A的规定。

5.5 硅芯管(Silicon core tube)管塞

硅芯管(Silicon core tube)管塞的密封(Seal up)性能应满足(satisfy)系统适用性的要求。

5.6 系统适用性

管材与连接(Connect)头连接(Connect)后应进行系统适用性实验,应契合表5的要求。

表5 系统适用性

系统密封(Seal up)性

温度20℃,压力50kpa条件(condition)下,保持24h,无渗漏

管接头连接(Connect)力/N

32/26

34/28

40/33

46/38

50/41

63/54

≥4300

≥4300

≥6700

≥8000

6 实验办法

6.1 状态调节和实验规范环境

除特俗规定外,试样应按GB/T 2918-1998的规定在23℃±2℃下进行状态调节24h,并且(also)在此环境下进行实验。

6.2 查验仪器和实验准备

6.2.1 查验所用的万能材料(Material Science)实验负荷准确度等级不低于1级;长度计量用具精度等级:钢卷尺不低于2级,其余不低于1级。

6.2.2 做拉伸实验所用试样的取样、制备和实验机的调整、操作(manipulate)等要求除特殊(special)规定外,还应按GB/T 8804.1-2003、GB/T 8804.3-2003的规定执行。

6.3 外观查验

在正常光芒下,用目测法直接查验。

6.4 尺寸测量

硅芯管(Silicon core tube)尺寸的测量按GB/T 8806-2008的规定,长度用分度值为1mm的卷尺测量,内外径用分度值不低于0.02mm的量具测量,壁厚宜用分度值不低于0.01mm的测厚仪或其余量规测量,不圆度测量见附录B。

6.5 物理化学性能查验

6.5.1 外壁硬度

将长度100mm的硅芯管(Silicon core tube)试样紧密套在外径恰当的金属棒上,放置在D型邵氏硬度计正下方,按GB/T 2411规定的办法,读取实验的霎时硬度为测量结果,共进行五次,取其算术平均值为测量结果。

6.5.2 内壁磨擦系数

6.5.2.1 内壁静态磨擦系数办法见附录C。

6.5.2.2 内壁动态磨擦系数办法见附录D

6.5.3 拉伸屈服强度(Strength)及断裂伸长率

试样形状应契合GB/T 8804.3-2003中类型2的规定,用冲裁的办法从管材上截取三个试样。试样按GB/T 8804.1-2003的步骤进行,实验速度为(100±5)mm/分钟。取三个有效实验的算术平均值作为测试结果。

注:若无明显屈服点时,以最大拉伸强度(Strength)为实验结果。

6.5.4 最大牵引负荷

取三段长度为(200±5)mm的完整硅芯管(Silicon core tube)试样,试样两头应垂直切平。用专用夹具将试样夹持在实验机上,拉伸速度为(450±10)mm/分钟,直至试样屈服时,读取实验的屈服负荷为实验结果。若试样在夹具边沿断裂,则实验无效,应重新更换试样。取三个有效实验的算术平均值为测试结果。

6.5.5 冷弯曲性能

冷弯曲性能件附录E。

6.5.6 环刚度

取三段长度为(200±1)mm的完整硅芯管(Silicon core tube)试样,压缩速度(5±1)mm/分钟,压缩量为内径的5%,按GB/T 9647-2003的规定进行。

6.5.7 恢复率

取三段长度为(200±1)mm的完整硅芯管(Silicon core tube)试样,试样两头应垂直切平。在试样直径两头做好标记,并量取标记处的外径为初始外径。按GB/T 9647-2003的规定将试样避免在两平行压板质检,以(100±5)mm/分钟的实验速度沿标记外径方向加压至外径变形量为初始外径的50%时,立刻卸荷,在规范状态下答复10分钟,再次量取标记处的外径为终了外径,按式(1)计算恢复率:

6.5.8 耐落锤冲击性能

按GB/T 14152-2001的规定,截取10个硅芯管(Silicon core tube)试样,将试样放在温度(-20±2)℃的低温实验箱中保持2h。在落锤高度2m,锤头尺寸型号为D90,落锤总质量(quality)15.3kg的条件(condition)下进行冲击,每一个试样冲击一次,每次取出一个试样,在30s内完成。试样不破裂或裂纹宽度不大于0.8mm为合格(qualified),10个试样中,9个(含)以上试样合格(qualified)为落锤冲击实验合格(qualified)。

6.5.9 耐液压性能

取两段长度不小于250mm的完整硅芯管(Silicon core tube)试样,依照GB/T 6111-2003规定的A型密封(Seal up)方式对试样端头进行密封(Seal up),将该试样夹持到实验机上缓慢注水,水温(20±2)℃,1分钟内达到规定的压力后保持15分钟,试样无明显鼓胀、无渗漏、不破裂为合格(qualified)。

6.5.10 纵向收缩率

按GB/T 6171-2001实验办法B进行,取三段长度(200±5)mm的硅芯管(Silicon core tube),标距100mm,烘箱温度(110±2)℃。

6.5.11 耐环境应力开裂

按GB/T 1842-2008规定,从硅芯管(Silicon core tube)上沿轴线直接截取试样,刻痕长度方向与轴线一致,刻痕深度:壁厚小于3.5mm时为0.65mm,壁厚大于3.5mm时为0.80mm;其余规定件GB/T 1842-2008,试剂为人壬基酚聚氧乙烯酸(TX-10)10%(体积分数)水溶液,实验温度50℃。

6.5.12 耐碳氢化合物性能

在规范实验环境下,去三段长度为(300±1)mm硅芯管(Silicon core tube)试样,用庚烷浸泡720h后取出,排干实验液体,在室温放置30分钟,以后对硅芯管(Silicon core tube)径向施加528N的压力并保持1分钟,卸荷后立刻对试样进行观测,试样无破坏或产生(come into being)的永久变形不超越5%为合格(qualified)。

6.5.13 系统密封(Seal up)性实验

去两段长度恰当的完整硅芯管(Silicon core tube)试样,用硅芯管(Silicon core tube)专用连接(Connect)头按生产(production)企业供给的工具盒办法连接(Connect)好,一端用管塞密封(Seal up)好,另外一端连接(Connect)专用具注水,在水温(20±2)℃,压力50kPa条件(condition)下,保持24h,试样的连接(Connect)头、管塞均不渗漏为合格(qualified)。

6.5.14 管接头连接(Connect)力

取两段长度为(200±5)mm的完整硅芯管(Silicon core tube),用硅芯管(Silicon core tube)专用连接(Connect)头骨按生产(production)企业供给的工具和办法连接(Connect)好组成(Form)试样,用专用卡具将该试样夹持到拉伸实验机上,拉伸速度为(100±5)mm/分钟,直至管连接(Connect)头被拉破裂或硅芯管(Silicon core tube)被拉出时,读取实验的最大拉伸负荷为实验结果。如斯共进行三组实验,取三次实验结果的算术平均值为测试结果。

6.5.15 熔体流动速率

按GB/T 3682-2000规定进行,实验温度190℃,实验负荷2.16kg.

7 查验规则

7.1 一般(commonly)规则

产品(product)的查验分为型式查验和出厂查验,产品(product)经过型式查验合格(qualified)后,才应批量生产(production)。

7.2 型式查验

7.2.1 查验项目

型式查验项目为本规范第5章的全部要求。

7.2.2 查验频率

型式查验为每一年进行一次,若有下列状况之一时,也应进行型式查验:

a) 正式生产(production)过程当中,如原材料(Material Science)、工艺(Technology)有较大改变,可能影响产品(product)性能时;

b) 产品(product)停产半年以上,答复生产(production)时;

c) 出厂查验结果与上次型式查验有较大差异时。

7.2.3 断定规则

型式查验时,若有任一项指标不契合本规范要求时,则需重新抽取双倍试样,对该项指标进行复验,复验结果依然分歧格时,则判该型式查验为分歧格。

7.3 出厂查验

7.3.1 一般(commonly)要求

产品(product)需经生产(production)单位质量(quality)部门查验合格(qualified)并附产品(product)质量(quality)合格(qualified)证明方可出厂。

7.3.2 组批

同一批号树脂(resin)、同一配方和同一工艺(Technology)生产(production)的同一规格的硅芯管(Silicon core tube)可组为一批,一般(commonly)不大于500km。

7.3.3 出厂查验项目

出厂查验项目为:5.1、5.2及5.3中规定的拉伸屈服强度(Strength)、断裂伸长率、耐落锤冲击性能、内壁静态磨擦系数。

7.3.4 抽样方案

7.3.4.1 出厂查验中的5.1、5.2要求的项目依照GB/T 2828.1-2003的规定,AQL取4.0、正常查验一次抽样、一般(commonly)查验水平Ⅱ、以盘为单位抽取样本,经常使用样本数量见表6。

表6 抽样方案表

批量N

样本量

接纳数Ac

拒收数Re

2~25

3

0

1

26~90

13

1

2

91~150

20

2

3

151~280

32

3

4

281~500

50

4

4

7.3.4.2 在计数抽样合格(qualified)的样品中,随即抽取充足的样品进行5.3中规定的拉伸屈服强度(Strength)、断裂伸长率、耐落锤冲击性能、内壁静态磨擦系数实验。

7.3.5 断定规则

7.3.5.1 关于5.1、5.2规定的项目依照表6进行断定。

7.3.5.2 对已5.3中规定的拉伸屈服强度(Strength)、断裂伸长率、耐落锤冲击性能、内壁静态磨擦系数,若有任一项指标不契合本规范要求时,则需重新抽取双倍试样,对该项指标进行复验;如复验样品仍有分歧格,则判该批为分歧格批。

8 标识、包装、运输(transport)、储存

8.1 产品(product)标识

在硅芯管(Silicon core tube)表面每间隔1m,印制3.3规定的标记,并在标记前加上生产(production)企业名称或商标,在标记后加上本规范编号、计米长度和生产(production)日期。

8.2 包装

硅芯管(Silicon core tube)两头密封(Seal up)后,固定在架盘上,并用恰当的包装物加以保护,以保证(ensure)在正常运输(transport)和寄存过程当中不进水或其余杂物,并具有短时间抗紫外光辐射的能力;每一个架盘上应附有盘架编号和包装标识,标识上应有“怕晒”、“远离热源”等字样或标志,标志应契合GB/T 191的有关规定。

8.3 运输(transport)

硅芯管(Silicon core tube)在运输(transport)时,不该受剧烈的撞击、磨擦和重压。卸货时,应用(application)叉车或吊车,不该将硅芯管(Silicon core tube)直接从运输(transport)工具上推下。

8.4 储存

8.4.1 硅芯管(Silicon core tube)寄存场地应平整,堆放应整齐,寄存场地应有明显的“禁止烟火”标志。储存和使用(Use)过程当中,应避免利器刮碰,应远离高温(high temperature)热源或明火,不该长期露天曝晒。

8.4.2 产品(product)储存期一般(commonly)不大于18个月。

8.5 产品(product)随行文件

8.5.1 每盘硅芯管(Silicon core tube)应附有制造标签和合格(qualified)证标签,每批还应供给产品(product)使用(Use)说明书。

8.5.2 制造标签主要内容包括:产品(product)标记、长度、生产(production)日期、批号、盘号、产品(product)规范编号、生产(production)企业名称、联系地址等。

8.5.3 合格(qualified)证标签主要内容包括:合格(qualified)证、查验人员代号、查验日期等。

8.5.4 产品(product)使用(Use)说明书中应给出硅芯管(Silicon core tube)的极限使用(Use)条件(condition)、施工(construction)办法和留意事项。

附录A

(规范性附录)

硅芯管(Silicon core tube)专用连接(Connect)头要求

A.1 构造组成(Form)

连接(Connect)头一般(commonly)由连接(Connect)壳体、封闭圈和卡簧组成(Form),壳体由连接(Connect)螺管、螺帽组成(Form)

A.2 材料(Material Science)要求

A 2.1 壳体和卡簧宜选用聚碳酸酯(PC)或工程塑料(ABS)注塑制成,主要性能指标见表A.1。

表A.1 连接(Connect)头壳体材料(Material Science)主要性能

项目

单位

技术(technology)指标

硬度

邵氏,HD

≥75

拉伸强度(Strength)

兆帕(Mpa)

≥45

冲击强度(Strength)(缺口)

Kj/㎡

≥50

燃烧性

A.2.2 密封(Seal up)圈宜采用高弹性能的橡胶材料(Material Science),并且(also)具有耐压、耐磨、耐环境应力开裂、耐老化性能以及耐酸、碱、盐等溶剂腐蚀(corrosion)性能。

A.3 外观

连接(Connect)螺管与配合螺帽的内外壁应光滑,无缺陷;二者螺旋配合杰出,外壁有规格型标志。

A.4 配合及尺寸

连接(Connect)螺管内径(D1)应在满足(satisfy)被接塑料管外径(D0)及其公差的状况下顺利插入,即D1>D0.

连接(Connect)螺管长度(L1):不小于硅芯管(Silicon core tube)外径(D0)的2.5倍。

组装后连接(Connect)总长度(L2):不小于硅芯管(Silicon core tube)(D0)的3.5倍。

A.5 组装后的机械性能

连接(Connect)件组装后可重复拆卸使用(Use),机械性能应契合A.2的要求。

表A.2 连接(Connect)件组装后的机械性能

项目

主要性能

抗压荷载

连接(Connect)件组装后,在2000N侧压力作用下保持1分钟,应无明显变形,撇去作用力(Exertion)后,不影响持续使用(Use)

耐冲击性能

连接(Connect)件组装后,在其上方0.54m.处自由跌落3kg钢球,充气连接(Connect)件,在不同位置冲击3次,连接(Connect)件无损伤并且(also)不影响使用(Use)

跌落测试

非别在-40℃和+60℃条件(condition)下寄存5h,取出后立刻在2m高度进行自由跌落实验,连接(Connect)件无损伤并且(also)不影响使用(Use)

A.6 气闭性能及连接(Connect)强度(Strength)

连接(Connect)件的气闭性能及连接(Connect)强度(Strength)应契合5.6的要求。

附录B

(规范性附录)

不同度测试办法

B.1 适用范围

本办法应用于测定以盘/卷形式(form)包装的硅芯管(Silicon core tube)产品(product)和生产(production)线上截取的硅芯管(Silicon core tube)的不圆度。

B.2 检测设备(equipment)

游标卡尺,准确至±0.02mm。

B.3 样品

取一段长度为500mm的硅芯管(Silicon core tube)试样,并在规范状态下恢复24h。当用于测量生产(production)线上的硅芯管(Silicon core tube)的不圆度时,应在硅芯管(Silicon core tube)导出装置以前截取样品。

B.4 结果断定

不圆度不该超越规范规定值。

B.5 测试步骤

B.5.1 连续缓慢地转动试样,在试样中部一固定圆周上,用游标尺进行一系列的外径测量,测出该断面最大外径和最小外径。以此办法,对五个断面进行测量,每次测量间距约50mm。对五次测量结果的最大外径进行算术平均,即可得到最大平均外径;同样,对五次测量结果的最小外径进行平均,即可得到最小的平均外径。

B.5.2 按式(B.1)计算平均外径:

平均外径=(最大平均外径+最小平均外径)/2……(B.1)

B.5.3 按式(B.2)计算不圆周:

不圆周=100×(最大平均外径-最小平均外径)/平均外径……(B.2)

附录C

(规范性附录)

平板法测定静态磨擦系数实验办法

C.1 测试原理

测试原理如图C.1所示,质量(quality)为m的物体有一个垂直向下的重力mg,当倾角a逐步增加并使物体客服磨擦力开始向下滑动时,即可按此时的倾角a构成的斜面进行磨擦系数的计算。

C.2 测试装置

测试装置由斜面、斜面升降装置、水平标尺、竖直标尺组成(Form),测试斜面长度L为1000mm,水平标尺和竖直标尺可用辨别力0.5mm,精度A级的钢板板尺组成(Form)。

C.3 规范试棒

规范试棒由金属材料(Material Science)棒芯和高密度(density)聚乙烯外套组成(Form)的长度为150m、直径为20mm的圆棒,圆棒表面的光洁度等级为▽4,表面邵氏硬度HD为59±2,质量(quality)为(270±10)g,构造如图C.2所示。

C.4 测试办法

取长度为500mm的硅芯管(Silicon core tube),放置在测试斜面上,硅芯管(Silicon core tube)的母线与斜面中心线平行并与斜面紧固。而后,将规范试棒放置在硅芯管(Silicon core tube)内,长度方向与硅芯管(Silicon core tube)轴线平行,试棒露出硅芯管(Silicon core tube)的间隔大于20mm。用升降装置将斜面缓慢升起,试棒向下滑动时,记载水平标尺和垂直标尺的数值,并按式(C.2)计算磨擦系数。如斯共实验9次,每次都应将硅芯管(Silicon core tube)旋转一个角度,取9次测试结果的算术平均值最为试样的静态磨擦系数。

附录D

(规范性附录)

圆鼓法测定动态磨擦系数实验办法

D.1 适用范围

本办法应用于圆鼓法测定光(电)缆在硅芯管(Silicon core tube)内壁滑动时与管内表面质检的动态磨擦系数。

D.2 检测设备(equipment)

D.2.1 圆鼓:外径为760mm的钢制圆鼓。

D.2.2 拉伸实验机:带有记载装置的电子万能材料(Material Science)实验机。

D.2.3 专用砝码:砝码质量(quality)20kg。

D.2.4 计算机控制及数据记载软件。

D.3 试样

D.3.1 被测试样:长度约为4m的硅芯管(Silicon core tube)。

D.3.2 测试电缆:直径(15±2)mm,长度约6m的PE-MD护套光(电)缆。

D.3.3 硅芯管(Silicon core tube)内表面和光(电)缆表面面应无穷制光(电)缆滑动的任何缺陷。

D.4 实验条件(condition)

实验前,实验设备(equipment)和样品应避免在(23±2)℃条件(condition)下保持2h,并在此条件(condition)下实验。

D.5 实验步骤

D.5.1 把硅芯管(Silicon core tube)按图D.1所示办法使用(Use)U型卡箍固定在圆鼓上,固定应稳定,避免测试时硅芯管(Silicon core tube)与圆鼓产生(come into being)相对挪动,硅芯管(Silicon core tube)沿圆鼓的缠绕角度为450°。

D.5.2 把测试电缆放入硅芯管(Silicon core tube)内,切割的缆长应满足(satisfy)测试的最大路程。

D.5.3 把测试电缆相连的夹头应能承受测试的最大拉伸负荷。

D.5.4 把专用砝码固定在测试电缆的一端,水平端与夹头连接(Connect),夹头经过线绳与拉伸实验机相连。

D.5.5 打开拉伸实验机,设定拉伸速度为100mm/分钟,当砝码恰好离开地面中止拉伸。调整圆鼓上的硅芯管(Silicon core tube),使测试电缆在硅芯管(Silicon core tube)中间。

D.5.6 开启实验机的拉伸程序,速度为100mm/分钟,当横梁位移到100mm~120mm时中止牵引,降下实验机横梁,使砝码落到地面。

D.5.7 当砝码落下,保证(ensure)拉伸实验机无载荷后,将拉伸实验机的力值和位移回零。

D.5.8 开启实验机的拉伸程序,进行正式实验,拉伸速度为100mm/分钟,当横梁位移到200mm时中止牵引,在100mm~160mm位移区间上读取并计算出拉伸实验的平均拉伸负荷F,依照(D.1)计算硅芯管(Silicon core tube)的动态磨擦系数。

D.5.9 此实验共进行三次,取三次实验结果的算术平均值为动态磨擦系数。

附录E

(规范性附录)

冷弯曲性能实验办法

E.1 适用范围

本办法应用于测定低温下硅芯管(Silicon core tube)的抗弯曲性能。

E.2 检测设备(equipment)

低温装置:温度能控制在(-20±2)℃.

弯曲实验装置:半径误差不大于5mm的钢制圆滚筒,滚筒表面面无毛刺。

E.3 样品

取三根1.5m长的硅芯管(Silicon core tube)作为试样(当硅芯管(Silicon core tube)外径大于40mm时,为2.0m),实验前试样应避免在(-20±2)℃温度条件(condition)下保持2h。

E.4 测试步骤

E.4.1 从低温装置中取出一根试样,疾速在四个不同方向长进行弯曲实验,每一个方向沿滚筒弯曲180°,弯曲状态呈U型。

E.4.2 第一次弯曲后,转动180°进行第二次弯曲,而后转动90°,进行第三次弯曲,再转动180°进行第四次弯曲,从低温装置取出试样开始,每次弯曲实验的时间间隔不可以超越20s,四次弯曲实验的总时间不可以超越40s。

E.4.3 从低温装置中取出另外两根试样,顺次依照E.4.1、E.4.2的步骤进行弯曲实验。

E.5 结果判断

试样经过弯曲实验后,无开裂和明显应力发白现象(phenomenon)为合格(qualified),三个试样都合格(qualified)时为冷弯曲性能合格(qualified)。

参考文献

[1]JT/T496-2004 《公路地下通信管道 高密度(density)聚乙烯硅芯管(Silicon core tube)塑料管》

[2]美国ASTM D3485-97 《预穿放电缆用缠绕实壁聚乙烯塑料管》

[3]美国电力制造商协会规范 NEMA TC7-1990 《可缠绕实壁聚乙烯电力塑料管道》

[4]美国Bellcores企业规范TR-NWT-000356 《光缆内保护管通用技术(technology)要求》

[5]欧洲PrEN 14281 《埋地线缆套管用塑料管道系统 聚乙烯管材、管件和系统》

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